Structure and imperfections in amorphous and crystalline SiO₂ /

Bibliographic Details
Other Authors: Devine, Roderick A. B., Duraud, J.-P, Dooryhée, E. (Eric)
Format: Book
Language:English
Published: Chichester ; New York : Wiley, 2000.
Subjects:

MARC

Tag First Indicator Second Indicator Subfields
LEADER 00000pam a2200000 a 4500
001 in00001550921
005 20151022064114.0
008 990507s2000 enka b 001 0 eng
010 |a  99030066  
015 |a GBA0-26831 
019 |a 43821906 
020 |a 0471975362 (hardback : alk. paper) 
035 |a (OCoLC)ocm41380456 
040 |a DLC  |c DLC  |d UKM  |d TXA  |d UtOrBLW 
049 |a TXAM 
050 0 0 |a QC585.75.S55  |b S77 2000 
082 0 0 |a 546/.6832  |2 21 
245 0 0 |a Structure and imperfections in amorphous and crystalline SiO₂ /  |c edited by R.A.B. Devine, J.-P. Duraud, and E. Dooryhée. 
264 1 |a Chichester ;  |a New York :  |b Wiley,  |c 2000. 
300 |a xxii, 505 pages :  |b illustrations ;  |c 24 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
650 0 |a Silica. 
700 1 |a Devine, Roderick A. B. 
700 1 |a Duraud, J.-P. 
700 1 |a Dooryhée, E.  |q (Eric) 
948 |a cataloged  |b h  |c 2000/8/10  |d c  |e jspillan  |f 2:15:51 pm 
994 |a E0  |b TXA 
999 |a MARS 
999 f f |s fc161109-e859-3f09-85b6-5d001ff81e45  |i 50d3a830-49b5-3515-83d9-55e13fe05bdd  |t 0 
952 f f |p normal  |a Texas A&M University  |b College Station  |c Sterling C. Evans Library  |d Evans: Library Stacks  |t 0  |e QC585.75.S55 S77 2000  |h Library of Congress classification  |i unmediated -- volume  |m A14825478348 
998 f f |a QC585.75.S55 S77 2000  |t 0  |l Evans: Library Stacks