Introduction to digital board testing /

Bibliographic Details
Main Author: Bennetts, R. G.
Format: Book
Language:English
Published: New York : London : Crane, Russak ; Edward Arnold, [1982]
Subjects:

MARC

Tag First Indicator Second Indicator Subfields
LEADER 00000cam a22000008a 4500
001 in00000083125
005 20151008055604.0
008 810406s1982 nyua b 00110 eng
010 |a  81003258  
020 |a 0844813850 
020 |z 0844913850 
020 |a 071313450X 
035 |a (OCoLC)07464451 
035 |9 AAJ3862AM 
040 |a DLC  |c DLC  |d TXA  |d UtOrBLW 
049 |a TXAM  |c [951963] 
050 0 0 |a TK7874  |b .B43 
082 0 |a 621.381/73  |2 19 
100 1 |a Bennetts, R. G. 
245 1 0 |a Introduction to digital board testing /  |c R.G. Bennetts. 
263 |a 8107 
264 1 |a New York :  |b Crane, Russak ;  |a London :  |b Edward Arnold,  |c [1982] 
264 4 |c ©1982 
300 |a xvi, 304 pages :  |b illustrations ;  |c 24 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
650 0 |a Digital integrated circuits  |x Testing. 
650 0 |a Printed circuits  |x Testing. 
999 |a MARS 
999 f f |s 2f1b0ee8-860f-3e21-a4cc-009283b51f65  |i 36a3f912-3961-306d-9582-9e7025918936  |t 0 
952 f f |p ric  |a Texas A&M University  |b Rellis Campus  |c Joint Library Facility  |d Remote Storage  |t 0  |e TK7874 .B43  |h Library of Congress classification  |i unmediated -- volume  |m A14806252204 
998 f f |a TK7874 .B43  |t 0  |l Remote Storage